统计分析

统计分析是对一定数量的专利的文摘信息的某些字段进行统计，得出一些表现形式比较直观的图形或报告。您可以有两种方式进入统计分析的页面：一是在检索结果页面上点击“统计分析”； 二是在首页左侧导航菜单的专利数据库目录下点击“统计分析”链接。通过上述的两种途径均可计入统计分析面，如下图。两种途径的区别是：在首页进入，在开始统计分析之前， 要在最下端的输入框中指定进行统计分析的范围，或者直接选择在全库范围内进行分析；而在检索页面上选中检索范围后，进入统计分析页面进行分析时，则不必再次指定范围了。

(1) 选择图形：系统提供了多种统计结果图形，可以根据个人的需要来进行选择。
(2) 设置统计变量：统计变量分为X轴变量和Y轴变量，其中X轴变量是必选的，Y轴变量为可选变量，由个人而定。设置变量时，单击选中变量名文本框，然后可以在统计模式中选择简单模式或高级模式进行设置。
简单模式：在简单模式中，提供了专利信息的所有日期型著录项目，如公开公告日、申请日等，选择一个著录项目作为统计变量，设置统计精度（年份或月份），然后指定统计的起始年份或月份和截止年份或月份，最后点“设置统计变量按钮”，就在指定的变量轴设置了变量。
高级模式：在高级模式中，需要先设置统计变量的名称，如冰箱，点“添加选项”按钮，添加选项名称并设置选项条件，可以添加多个选项，也可以删除已设置的选项。
(3) 指定统计分析范围：正如我们在一开始说到的，进入统计分析页面可以有两种途径，而且这两种操作有所区别，那就是在完成了设置统计变量以后，如果是从首页直接进入，那么在开始分析之前，如果不是选择在全库中分析，则必须要指定分析的范围，方法是选择专利库， 然后在输入框中填写条件表达式。如果是从检索结果页面进入统计分析，则系统默认是在选中的检索结果中进行分析。
(4) 开始分析：选择了图形、设置了统计变量并指定范围后，就可以点“开始分析”按钮进行统计分析了，从而得到分析后的图形。